E+H雷達物位計的特點 雷達物位計采用微波脈沖的測量方法,并可在工業頻率波段范圍內正常,波束能量低,可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內,對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大,有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環境均無傷害,還具有不受介質比重的影響,不受介電常數變化的影響,不需要現場校調等優點,不論是對工業需要,還是對顧客經濟實惠的考慮,都是不錯的選擇。 雷達物位計已成為物位測量儀表市場上的主流產品,主要分為雷達物位計和導波雷達物位計。
雷達物位計發射功率很低的極短的微波通過天線系統發射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩定和的測量。即使存在虛假反射的時候,的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸,可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好,料倉內的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
導波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行,接觸到被測介質后,微波脈沖被反射回來,并被電子部件接收,并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波,分析計算后將它轉換成物位信號給出。由于測量原理簡單,可以不帶料調整,從而節省了大量調試費用。測量纜或棒可以截短,使之更加適應現場的應用。對于蒸汽不敏感,即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下,測量精度也不受到影響。不受介質特性變化的影響,被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量精度。粘附:沒有問題,在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。容器內安裝物如果采用同軸套管式的測量*不受容器內安裝物的影響,不需要特殊調試。
FTM51-AGG2M4A32AA L=400MM FTM51-AGG2L4A52AA L=400MM FTM51-AGG2L4A52AA L=650MM FTL20-002D FTC260-BB2D1 FMI52-A1AGEJB3A1A (L=4.8M) DB53-AK71BC12BG20測5.5m 纜6.5m DB53-AK71BC12GG20測3.5M 纜長5.0M FTL51-AGR2BB4F6A L=150MM FTL51-AGE2DB7G4A FTL20-0020 FTL260-0020 DB50-AC10BC11EG30 FMX167-A2AFE1F3 FTC260-BB2D1 FMP40-ABB2CWJB21AA L=15M FTL51-AGQ2BB2G4A L=148MM FMI51-A1AB2KB3A1A L=1500MM FTM51-G2L4AH7AA L=400mm FTM20-4G42A FTM50-AGG2A4A14AA FMP40-AAA2CFJB21AA L=8M FTM260-G4B FTM50-AGG2A4A32AA FTC260-AA4B1 FMP40-LBB2CQJB21HA L=12M FTL50H-ATE2AD4G6A |